礦石分析儀的檢測(cè)原理

市場(chǎng)上礦產(chǎn)資源不斷被大量的開發(fā)，而隨著國(guó)家綜合實(shí)力不斷提升對(duì)檢測(cè)設(shè)備的要求越高，大量的優(yōu)質(zhì)儀器不斷從國(guó)外進(jìn)口，隨著國(guó)內(nèi)分析儀器公司不斷增多，各種檢測(cè)方法也很普及開來，但是還是有很多人不知道自己產(chǎn)品適合哪種分析儀檢測(cè)。

不同類的分析儀器各有千秋，任何一種儀器都不能包打天下，優(yōu)點(diǎn)和缺點(diǎn)都是相對(duì)而言。

礦石分析儀器使用x射線檢測(cè)元素，射線是一種分離的不連續(xù)譜，受激發(fā)產(chǎn)生的X射線稱為二次X射線或X射線熒光。通過測(cè)量和分析樣品產(chǎn)生的X射線熒光即可獲知樣品中的元素組成，得到物質(zhì)成分的定性和定量信息。